A série N62100 integra cargas eletrônicas DC de bancada (“benchtop”), de alto desempenho, projetadas para testes precisos de fontes de alimentação, módulos de energia, adaptadores rápidos de carregamento, componentes eletrônicos e células de energia.
Ela oferece múltiplos modos de carga — CC (corrente constante), CV (tensão constante), CR (resistência constante), CP (potência constante) — além de modos combinados (CV+CC, CV+CR, CR+CC, CP+CC) para atender à variação de características de carga em aplicações reais.
Adicionalmente, a série inclui funcionalidades especiais como simulação de LED-drive, teste OCP/OPP/OVP, teste de efeito de carga (load effect), medição de tempo, varredura dinâmica (dynamic sweep), simulação de curto-circuito e simulação de impedância.
Em termos de conectividade, suporta interface LAN e RS-232 para automação ou integração em sistemas de ensaio.
Aplicações Típicas
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Bancadas de ensaio de fontes AC/DC, conversores DC/DC, adaptadores de carregamento rápido, bancos de bateria ou supercapacitores.
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Teste de componentes eletrônicos (por exemplo: fios-fais-auto, fusíveis, conectores, central elétrica de controle).
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Testes de células de lítio-íon, supercapacitores ou unidades de armazenamento (distribuição de descarga, monitoramento de comportamento de descarga).
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Validação de adaptadores rápidos, power banks, módulos de alimentação portáteis.
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Integração em sistemas ATE (Automatic Test Equipment) onde é necessária carga programável com alta precisão e múltiplos modos de operação.
Vantagens Principais
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Alta versatilidade de modos de operação e funcionalidades de teste que permitem simulação realista de carga.
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Faixa de potência adequada para aplicações de bancada (150 W-600 W) com densidade de medição elevada e precisão.
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Interface de comunicação e automação integradas (LAN/RS-232) facilitando seu uso em sistemas de ensaio.
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Ampla faixa de tensão/corrente, modalidade de operação combinada (por exemplo CV+CC) para simulação de cenários complexos.
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Construção de bancada compacta, ideal para laboratórios ou sistemas de teste integrados.
